《UVM芯片验证技术案例集》马骁 清华大学出版社 2024

内容简介:

本书是基于uvm验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书，包括对多种实际问题场景下的解决专题，作为uvm的教材进行学。 不同于带领读者学uvm的基础用法，本书分为多个专题，每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题，相关技术工程师可以快速参并复现解决思路和步骤，实用强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景，解决的思路、基本、步骤，并给出了示例代码供参。 本书适合具备基础的相关专业的在校大或者相关领域的技术工程人员进行阅读学，书中针对多种芯片验证实际工程场景给出了对应的解决方法，具备的工程参价值，并且可以作为高等院校和培训机构相关专业的参书。

作者简介:

: 马骁，东南大学集成电路专业硕士，已申请芯片验证领域多个专利，网易云课堂“芯片验证：UVM理论与实战”“芯片验证：Python脚本理论与实战”等课程的作者。

目录:

章可重用的uvm验证环境
1.1背景技术方案及缺陷
1.1.1现有方案
1.1.2主要缺陷
1.2解决的技术问题
1.3提供的技术方案
1.3.1结构
1.3.2
1.3.3优点
1.3.4具体步骤
第2章interface快速声明、连接和配置传递的方法
2.1背景技术方案及缺陷
2.1.1现有方案
2.1.2主要缺陷
2.2解决的技术问题
2.3提供的技术方案
2.3.1结构
2.3.2
2.3.3优点
2.3.4具体步骤
第3章在可重用验证环境中连接interface的方法
3.1背景技术方案及缺陷
3.1.1现有方案
3.1.2主要缺陷
3.2解决的技术问题
3.3提供的技术方案
3.3.1结构
3.3.2
3.3.3优点
3.3.4具体步骤

第4章支持结构体端数据类型的连接interface的方法
4.1背景技术方案及缺陷
4.1.1现有方案
4.1.2主要缺陷
4.2解决的技术问题
4.3提供的技术方案
4.3.1结构
4.3.2
4.3.3优点
4.3.4具体步骤
第5章快速配置和传递验证环境中配置对象的方法
5.1背景技术方案及缺陷
5.1.1现有方案
5.1.2主要缺陷
5.2解决的技术问题
5.3提供的技术方案
5.3.1结构
5.3.2
5.3.3优点
5.3.4具体步骤
第6章对采用reactive slave方式验证的改进方法
6.1背景技术方案及缺陷
6.1.1现有方案
6.1.2主要缺陷
6.2解决的技术问题
6.3提供的技术方案
6.3.1结构
6.3.2
6.3.3优点
6.3.4具体步骤
第7章应用sequence反馈机制的激励控制方法
7.1背景技术方案及缺陷
7.1.1现有方案
7.1.2主要缺陷
7.2解决的技术问题
7.3提供的技术方案
7.3.1结构
7.3.2
7.3.3优点
7.3.4具体步骤
第8章应用uvm_tlm_analysis_fifo的激励控制方法
8.1背景技术方案及缺陷
8.1.1现有方案
8.1.2主要缺陷
8.2解决的技术问题
8.3提供的技术方案
8.3.1结构
8.3.2
8.3.3优点
8.3.4具体步骤
第9章快速建立dut替代模型的记分板标准方法
9.1背景技术方案及缺陷
9.1.1现有方案
9.1.2主要缺陷
9.2解决的技术问题
9.3提供的技术方案
9.3.1结构
9.3.2
9.3.3优点
9.3.4具体步骤
0章支持乱序比较的记分板的快速实现方法
10.1背景技术方案及缺陷
10.1.1现有方案
10.1.2主要缺陷
10.2解决的技术问题
10.3提供的技术方案
10.3.1结构
10.3.2
10.3.3优点
10.3.4具体步骤
1章对固定延迟输出结果的rtl接信号的monitor的简便方法
11.1背景技术方案及缺陷
11.1.1现有方案
11.1.2主要缺陷
11.2解决的技术问题
11.3提供的技术方案
11.3.1结构
11.3.2
11.3.3优点
11.3.4具体步骤
2章监测和控制dut信号的方法
12.1背景技术方案及缺陷
12.1.1现有方案
12.1.2主要缺陷
12.2解决的技术问题
12.3提供的技术方案
12.3.1结构
12.3.2
12.3.3优点
12.3.4具体步骤
3章向uvm验证环境中传递设计参数的方法
13.1背景技术方案及缺陷
13.1.1现有方案
13.1.2主要缺陷
13.2解决的技术问题
13.3提供的技术方案
13.3.1结构
13.3.2
13.3.3优点
13.3.4具体步骤
4章对设计与验证台连接集成的改进方法
14.1背景技术方案及缺陷
14.1.1现有方案
14.1.2主要缺陷
14.2解决的技术问题
14.3提供的技术方案
14.3.1结构
14.3.2
14.3.3优点
14.3.4具体步骤
5章应用于路由类模块设计的transaction调试追踪和控制的方法
15.1背景技术方案及缺陷
15.1.1现有方案
15.1.2主要缺陷
15.2解决的技术问题
15.3提供的技术方案
15.3.1结构
15.3.2
15.3.3优点
15.3.4具体步骤
6章使用uvm sequence item对包含layered protocol的rtl设计进行验证的
简便方法
16.1背景技术方案及缺陷
16.1.1现有方案
16.1.2主要缺陷
16.2解决的技术问题
16.3提供的技术方案
16.3.1结构
16.3.2
16.3.3优点
16.3.4具体步骤
7章应用于vip的访问者模式方法
17.1背景技术方案及缺陷
17.1.1现有方案
17.1.2主要缺陷
17.2解决的技术问题
17.3提供的技术方案
17.3.1结构
17.3.2
17.3.3优点
17.3.4具体步骤
8章设置uvm目标phase的额外等待时间的方法
18.1背景技术方案及缺陷
18.1.1现有方案
18.1.2主要缺陷
18.2解决的技术问题
18.3提供的技术方案
18.3.1结构
18.3.2
18.3.3优点
18.3.4具体步骤
9章基于uvm验证台的结束机制
19.1背景技术方案及缺陷
19.1.1现有方案
19.1.2主要缺陷
19.2解决的技术问题
19.3提供的技术方案
19.3.1结构
19.3.2
19.3.3优点
19.3.4具体步骤
第20章记分板和断言检查相结合的验证方法
20.1背景技术方案及缺陷
20.1.1现有方案
20.1.2主要缺陷
20.2解决的技术问题
20.3提供的技术方案
20.3.1结构
20.3.2
20.3.3优点
20.3.4具体步骤
第21章支持错误注入验证测试的验证台
21.1背景技术方案及缺陷
21.1.1现有方案
21.1.2主要缺陷
21.2解决的技术问题
21.3提供的技术方案
21.3.1结构
21.3.2
21.3.3优点
21.3.4具体步骤
第22章一种基于bind的ecc存储注错测试方法
22.1背景技术方案及缺陷
22.1.1现有方案
22.1.2主要缺陷
22.2解决的技术问题
22.3提供的技术方案
22.3.1结构
22.3.2
22.3.3优点
22.3.4具体步骤
第23章在验证环境中更优的枚举型变量的声明使用方法
23.1背景技术方案及缺陷
23.1.1现有方案
23.1.2主要缺陷
23.2解决的技术问题
23.3提供的技术方案
23.3.1结构
23.3.2
23.3.3优点
23.3.4具体步骤
第24章基于uvm方法学的sva封装方法
24.1背景技术方案及缺陷
24.1.1现有方案
24.1.2主要缺陷
24.2解决的技术问题
24.3提供的技术方案
24.3.1结构
24.3.2
24.3.3优点
24.3.4具体步骤
第25章增强对sva调试和控制的方法
25.1背景技术方案及缺陷
25.1.1现有方案
25.1.2主要缺陷
25.2解决的技术问题
25.3提供的技术方案
25.3.1结构
25.3.2
25.3.3优点
25.3.4具体步骤
第26章针对芯片复位测试场景下的验证框架
26.1背景技术方案及缺陷
26.1.1现有方案
26.1.2主要缺陷
26.2解决的技术问题
26.3提供的技术方案
26.3.1结构
26.3.2
26.3.3优点
26.3.4具体步骤
第27章采用事件触发的芯片复位测试方法
27.1背景技术方案及缺陷
27.1.1现有方案
27.1.2主要缺陷
27.2解决的技术问题
27.3提供的技术方案
27.3.1结构
27.3.2
27.3.3优点
27.3.4具体步骤
第28章支持多空间域的芯片复位测试方法
28.1背景技术方案及缺陷
28.1.1现有方案
28.1.2主要缺陷
28.2解决的技术问题
28.3提供的技术方案
28.3.1结构
28.3.2
28.3.3优点
28.3.4具体步骤
第29章对参数化类的压缩处理技术
29.1背景技术方案及缺陷
29.1.1现有方案
29.1.2主要缺陷
29.2解决的技术问题
29.3提供的技术方案
29.3.1结构
29.3.2
29.3.3优点
29.3.4具体步骤
第30章基于uvm的中断处理技术
30.1背景技术方案及缺陷
30.1.1现有方案
30.1.2主要缺陷
30.2解决的技术问题
30.3提供的技术方案
30.3.1结构
30.3.2
30.3.3优点
30.3.4具体步骤
第31章实现覆盖率收集代码重用的方法
31.1背景技术方案及缺陷
31.1.1现有方案
31.1.2主要缺陷
31.2解决的技术问题
31.3提供的技术方案
31.3.1结构
31.3.2
31.3.3优点
31.3.4具体步骤
第32章对实现覆盖率收集代码重用方法的改进
32.1背景技术方案及缺陷
32.1.1现有方案
32.1.2主要缺陷
32.2解决的技术问题
32.3提供的技术方案
32.3.1结构
32.3.2
32.3.3优点
32.3.4具体步骤
第33章针对相互依赖的成员变量的约束方法
33.1背景技术方案及缺陷
33.1.1现有方案
33.1.2主要缺陷
33.2解决的技术问题
33.3提供的技术方案
33.3.1结构
33.3.2
33.3.3优点
33.3.4具体步骤
第34章对约束程序块的控制管理及重用的方法
34.1背景技术方案及缺陷
34.1.1现有方案
34.1.2主要缺陷
34.2解决的技术问题
34.3提供的技术方案
34.3.1结构
34.3.2
34.3.3优点
34.3.4具体步骤
第35章约束和覆盖组同步技术
35.1背景技术方案及缺陷
35.1.1现有方案
35.1.2主要缺陷
35.2解决的技术问题
35.3提供的技术方案
35.3.1结构
35.3.2
35.3.3优点
35.3.4具体步骤
第36章在约束对象中实现多继承的方法
36.1背景技术方案及缺陷
36.1.1现有方案
36.1.2主要缺陷
36.2解决的技术问题
36.3提供的技术方案
36.3.1结构
36.3.2
36.3.3优点
36.3.4具体步骤
第37章支持动态地址映的寄存器建模方法
37.1背景技术方案及缺陷
37.1.1现有方案
37.1.2主要缺陷
37.2解决的技术问题
37.3提供的技术方案
37.3.1结构
37.3.2
37.3.3优点
37.3.4具体步骤
第38章对寄存器突发访问的建模方法
38.1背景技术方案及缺陷
38.1.1现有方案
38.1.2主要缺陷
38.2解决的技术问题
38.3提供的技术方案
38.3.1结构
38.3.2
38.3.3优点
38.3.4具体步骤
第39章基于uvm存储模型的寄存器突发访问的建模方法
39.1背景技术方案及缺陷
39.1.1现有方案
39.1.2主要缺陷
39.2解决的技术问题
39.3提供的技术方案
39.3.1结构
39.3.2
39.3.3优点
39.3.4具体步骤
第40章寄存器间接访问的验证模型实现框架
40.1背景技术方案及缺陷
40.1.1现有方案
40.1.2主要缺陷
40.2解决的技术问题
40.3提供的技术方案
40.3.1结构
40.3.2
40.3.3优点
40.3.4具体步骤
第41章基于uvm的存储建模优化方法
41.1背景技术方案及缺陷
41.1.1现有方案
41.1.2主要缺陷
41.2解决的技术问题
41.3提供的技术方案
41.3.1结构
41.3.2
41.3.3优点
41.3.4具体步骤
第42章对片上存储空间动态管理的方法
42.1背景技术方案及缺陷
42.1.1现有方案
42.1.2主要缺陷
42.2解决的技术问题
42.3提供的技术方案
42.3.1结构
42.3.2
42.3.3优点
42.3.4具体步骤
42.3.5算法能测试
42.3.6备注
第43章简便且灵活的寄存器覆盖率统计收集方法
43.1背景技术方案及缺陷
43.1.1现有方案
43.1.2主要缺陷
43.2解决的技术问题
43.3提供的技术方案
43.3.1结构
43.3.2
43.3.3优点
43.3.4具体步骤
第44章模拟真实环境下的寄存器重配置的方法
44.1背景技术方案及缺陷
44.1.1现有方案
44.1.2主要缺陷
44.2解决的技术问题
44.3提供的技术方案
44.3.1结构
44.3.2
44.3.3优点
44.3.4具体步骤
第45章使用c语言对uvm环境中寄存器的读写访问方法
45.1背景技术方案及缺陷
45.1.1现有方案
45.1.2主要缺陷
45.2解决的技术问题
45.3提供的技术方案
45.3.1结构
45.3.2
45.3.3优点
45.3.4具体步骤
第46章提高对寄存器模型建模代码可读的方法
46.1背景技术方案及缺陷
46.1.1现有方案
46.1.2主要缺陷
46.2解决的技术问题
46.3提供的技术方案
46.3.1结构
46.3.2
46.3.3优点
46.3.4具体步骤
第47章兼容uvm的供应商存储ip的后门访问方法
47.1背景技术方案及缺陷
47.1.1现有方案
47.1.2主要缺陷
47.2解决的技术问题
47.3提供的技术方案
47.3.1结构
47.3.2
47.3.3优点
47.3.4具体步骤
47.3.5备注
第48章应用于芯片领域的代码仓库管理方法
48.1背景技术方案及缺陷
48.1.1现有方案
48.1.2主要缺陷
48.2解决的技术问题
48.3提供的技术方案
48.3.1结构
48.3.2
48.3.3优点
48.3.4具体步骤
第49章dpi多线程加速技术
49.1背景技术方案及缺陷
49.1.1现有方案
49.1.2主要缺陷
49.2解决的技术问题
49.3提供的技术方案
49.3.1结构
49.3.2
49.3.3优点
49.3.4具体步骤
第50章基于uvm验证台的硬件加速技术
50.1背景技术方案及缺陷
50.1.1现有方案
50.1.2主要缺陷
50.2解决的技术问题
50.3提供的技术方案
50.3.1结构
50.3.2
50.3.3优点
50.3.4具体步骤